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新華網新德里4月6日專電（記者毛曉曉）印度科學家最近發現了一個新的導致小腦癥的基因，使得這一大腦缺陷在胎兒時期更易被檢測出來。

據《印度時報》報道，小腦癥是一種先天疾病，患者因腦容量比常人要小，其精神和智力發育會因此受到影響。

印度科學研究所和印度國立精神衛生和神經科學研究所的科學家經過9年的共同研究發現，一個對于大腦正常發育至關重要的名為STIL的基因有時會發生變異，導致小腦癥。此前科學家已發現有4個基因發生變異時會導致小腦癥。

這一研究成果已發表在最新一期的《國際遺傳學雜志》上。